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项目 |
型号 |
XAU |
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涂镀层分析 |
可同时分析23个镀层，24种元素，不同层有相同元素也可分析，可检测Li（3）-U（92）涂镀层90种元素 |
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成分分析 |
用于地矿、合金及贵金属等物质中S(16)-U（92）的77种元素成分分析 |
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EFP算法 |
标配 |
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软件操作 |
人性化封闭软件，自动判断故障提示校正及操作步骤，避免误操作 |
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分析时间 |
5-300秒 |
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信号及接收 |
Si-Pin半导体探测器 |
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X射线装置 |
微聚焦射线管 |
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准直器 |
Φ0.3mm； |
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微光聚焦技术 |
最近测距光斑扩散度小于10% |
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测量距离 |
具有距离补偿功能，可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-30mm |
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样品观测 |
1/2.7”彩色CCD，变焦功能 |
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对焦方式 |
高敏感镜头，手动对焦 |
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放大倍数 |
光学38-46X，数字放大40-200倍 |
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仪器尺寸 |
545mm*380mm*435mm |
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样品腔高度 |
180mm |
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样品台移动 |
高精密XY手动滑轨 |
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可移动范围 |
45mm*45mm |
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仪器重量 |
低于45KG |
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其他附件 |
电脑一套、打印机、附件箱、十二元素片、标准片 |
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X射线标准 |
DINISO3497、DIN50987和ASTMB568 |
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