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能量色散X荧光光谱仪

膜厚分析·RoHS检测·材料成分分析

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产品详情

X荧光工作原理

物质在被一定波长的X射线照射时,元素将处于激发状态而发射出光子,形成一种特征X荧光射线。每一种元素的能量都是—一对应的,探测器接收到元素的特征X荧光射线之后,可以通过其中的光子能量进行定性分析,还可通过其中的光子量值进行定量分析。




产品应用


涂镀层成分及厚度分析
对多层测试:多层合金,上下元素重复镀层、轻元素和有机物镀层及渗层的厚度及分析成分。

环保检测解决方案
对各种重金属及有害元素进行检测,测试检出限可达1ppm以下。

全元素成分分析
可对各种合金、矿石、土壤、珠宝首饰等等进行元素成分分析。

产品特点

独特的光路交换装置,让X射线和可见光射向同一垂直线,达到测试不同距离的定位与视觉在同一位置,搭配嵌入集成式多准直孔、滤光片切換装置,X光扩散度极小;与EFP软件配合达到对焦、变焦双焦功能实现高低、大小、凹凸不平各种形状样品的测试;高集成的光路交换装置与接收器的角度可缩小一倍,可以减少弘倾斜放样带来的误差,同时特征X射线可以穿透测试更厚的表层。


产品选型





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